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| 麦可罗泰克（常州）实验室研发CAF多通道测量系统 |
| (2010-12-23) |
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据麦可罗泰克（常州）实验室主办的《电子月刊》第19期报道，随着电子产品小型化的发展，在高密度多层印制线路板中，层与层、孔与孔之间、线与孔之间的距离越来越小，这些小距离很容易使得电子产品在使用中因为内部发生铜离子迁移而发生电路失效，降低了产品的可靠性。为了避免离子迁移的发生，需要验证板材、生产工艺和设计安全距离，需要进行耐离子迁移试验（简称CAF试验）。为了取得可靠的结果，试验需要使用大量的样品，从而需要大量的测量，目前市场上的CAF测量设备，都受到测量通道的限制，只能测量56通道、126通道、256通道，无法满足更多通道测量以提高测量效率的要求。
为解决上述技术问题，麦可罗泰克（常州）实验室研发了一种CAF多通道测量系统，其包括: 用于分别连接置于恒温恒湿试验箱中的多个高密度多层印制线路板的样品连接电缆、与分组的样品连接电缆相连的多通道转换装置、与多通道转换装置相连的用于通过各组样品连接电缆对各高密度多层印制线路板进行分组测量的绝缘电阻测试仪、与该绝缘电阻测试仪相连的用于实现测量数据存储的计算机；多通道转换装置通过测量电缆B与所述绝缘电阻测试仪相连。多通道转换装置上连接有用于输入测量用偏置电压的偏置电压接入装置。
本项目的CAF多通道测量系统中，多通道转换装置将连接样品（即多个高密度多层印制线路板）的电缆进行分组连接，然后使用绝缘电阻测试仪进行分组测量。本装置可以大大增加测量通道，解决了多样品试验中的测量问题，使得一次试验的样品数可以增加很多，减少了试验成本。该装置除提供测量转换外，测量间隙可以插入限流电阻，给样品中的试验网络加入偏置电压，满足离子迁移的生长条件。
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| 资料来源：麦可罗泰克（常州）实验室《电子月刊》第19期 |
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