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广东生益在2012 IEC/TC91年会上提交高频测试方法提案
(2013-2-6)
 

  “2012 IEC/TC91年会”于2012年10月15至19日在日本福冈举行。中国电子技术标准化研究院曹易、广东生益蔡巧儿、葛鹰和王一作为中国代表团成员参加了此次年会。广东生益在此次年会上代表中国代表团提出并介绍了IEC提案《微波频率下覆铜板介电常数和介质损耗角正切值测试方法(分离介质柱谐振腔法)》,与会代表对此提案表现出极大的兴趣。WG10接受了该提案并同意将该提案提交至下一阶段,即根据IEC程序进行正式的NP投票。
 
 资料来源:生益科技网站
 
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